TWP-W188型 表面磁光克尔效应实验系统

TWP-W188型表面磁光克尔效应实验系统是在原实验系统的基础上改进提高而成，仪器的整体性能和实验稳定度均得到了明显的改善。

首先，实验平台改掉了光学铁板的形式，采用硬铝黑色阳极氧化的方式，这样大大提高了光学平台的可移动性和光学性能，台面采用 M6固定螺孔的方式来连接各个光学元件，这样整个光学调节完成后可以减少不必要的移动和改变，对后面实验操作带来了方便。

其次，仪器测试灵敏度提高了一倍，这样最终的测试信号整体稳定性得到了大大改善，这样可以进一步研究单原子层厚度的磁性薄膜的性质，在磁性超薄膜的磁有序、磁各向异性、层间耦合和磁性超薄膜的相变行为等方面的研究中发挥更重要的作用。

再有，环形电磁铁进一步改进，在不改变中心最大磁感应强度的情况下，缩小磁铁结构，这样更加有利于与超高真空系统连接，对磁性薄膜和超薄膜进行原位测量。

仪器主要技术参数：

1.实验平台 光学减振组合式实验台，台面尺寸 1200×900mm，M6螺孔，孔距25×25mm，

2.高稳定度半导体激光器，波长 650nm，输出功率 2mW左右，最小光斑直径1mm。

3.偏振棱镜 通光孔径 8mm，消光比 10 -5 ，主透比90％。

4.环形电磁铁 中心最大磁感应强度约 2800Gs，磁间隙30mm

5.精密恒流电源 最大电压38V，最大输出电流 10A。