TWP-W162型 双棱镜光干涉实验仪

1826年法国科学家菲涅耳(Fresnel)用双棱镜将一束相干光的波前分成两部分，形成分波面干涉，利用测量干涉条纹间距(毫米量级),求得光的波长(纳米量级)。此光干涉实验的物理思想、实验方法与测量技巧,具有很深的教学价值。本双棱镜光干涉实验仪具有以下优点：

1.配有半导体激光 (650.0nm)单色光源，半导体激光经大幅度降低光强处理，用其作光源具有相干性且不伤害眼睛的优点，可很方便调出图像清晰干涉条纹，也为钠光干涉条纹调节带来方便，测量二种光的波长进行比较。

2.导轨和转盘采用高强度优质铝合金材料、燕尾槽结构、转盘灵活、不会生锈、经久耐用、手感好。

3．带有黑色挡光罩，可在白光及通风条件下做光学实验。

本仪器可供大专院校基础物理实验和设计性研究性物理实验。

应用本仪器可以完成以下实验：

1．观察双棱镜的干涉现象。

2．测量激光器的波长以及钠灯黄光的波长。

3．观察其他光源的双棱镜光干涉现象。

仪器主要技术参数：

1．导轨 长80.0cm，分度值1mm；滑块5只，其中1个滑块上带转动装置。

2．带转盘的狭缝 缝宽约0.04mm。

3．测微目镜和支架 测微目镜量程0-8mm，分度值0.01mm。

4．光源 半导体激光器，光波长650.0nm，已大幅度衰减光强。工作电压直流3V。

5．钠光灯及电源（选配）。